Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機

產(chǎn)品型號：iKon-L SY
更新時間：2025-10-17
產(chǎn)品介紹：Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。
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Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動態(tài)范圍和快速探測的CCD、sCMOS和EMCCD相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機特性：

TE冷卻至-55°C

95%的峰值QE高探測器靈敏度

標準配置為“獨立"鈹窗，厚度為250微米的鈹箔窗

13.5 x 13.5um像素大小動態(tài)范圍和分辨率的最佳平衡

超低噪聲讀出智能低噪聲電子設備提供最“安靜"的系統(tǒng)噪聲性能

產(chǎn)品規(guī)格	iKon-L SY
芯片類型	背照CCD
快門	全局快門
數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
分辨率	2048 x 2048
彩色/黑白	黑白
幀率	0.953

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